ASTM F1467-11
Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (x2248; 10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen

Standard-Nr.
ASTM F1467-11
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F1467-18
Letzte Version
ASTM F1467-18

ASTM F1467-11 Normative Verweisungen

  • ASTM E1249 Standardpraxis zur Minimierung von Dosimetriefehlern bei der Strahlungshärteprüfung elektronischer Siliziumgeräte unter Verwendung von Co-60-Quellen
  • ASTM E170 Standardterminologie in Bezug auf Strahlungsmessungen und Dosimetrie
  • ASTM E1894 Standardhandbuch zur Auswahl von Dosimetriesystemen für die Anwendung in gepulsten Röntgenquellen
  • ASTM E666 Standardverfahren zur Berechnung der absorbierten Dosis aus Gamma- oder Röntgenstrahlung
  • ASTM E668 Standardpraxis für die Anwendung von Thermolumineszenz-Dosimetrie-Systemen (TLD) zur Bestimmung der absorbierten Dosis bei der Strahlungshärteprüfung elektronischer Geräte

ASTM F1467-11 Veröffentlichungsverlauf

  • 2018 ASTM F1467-18 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (≈10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
  • 2011 ASTM F1467-11 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (x2248; 10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
  • 1999 ASTM F1467-99(2005)e1 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
  • 1999 ASTM F1467-99(2005) Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
  • 1999 ASTM F1467-99 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (x2248; 10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen



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