ASTM F1467-99(2005)
Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen

Standard-Nr.

ASTM F1467-99(2005)

Erscheinungsdatum

1999

Organisation

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

ASTM F1467-99(2005)e1

Letzte Version

ASTM F1467-18

ASTM F1467-99(2005) Veröffentlichungsverlauf

• 2018 ASTM F1467-18 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (≈10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
• 2011 ASTM F1467-11 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentesters (x2248; 10 keV Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
• 1999 ASTM F1467-99(2005)e1 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
• 1999 ASTM F1467-99(2005) Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen
• 1999 ASTM F1467-99 Standardhandbuch für die Verwendung eines Röntgentestgeräts ([ungefähr] 10 keV-Photonen) bei der Prüfung der Auswirkungen ionisierender Strahlung auf Halbleiterbauelemente und Mikroschaltungen