JIS C 5630-6:2011
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 6: Axiale Ermüdungsprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien

Standard-Nr.

JIS C 5630-6:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

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Letzte Version

JIS C 5630-6:2011

ersetzt durch

GMKOREA EDS-M-4633-2014

JIS C 5630-6:2011 Normative Verweisungen

• JIS C 5630-2 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien

JIS C 5630-6:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 JIS C 5630-6:2011 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 6: Axiale Ermüdungsprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien

JIS C 5630-6:2011 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 6: Axiale Ermüdungsprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien ha sido cambiado a GMKOREA EDS-M-4633-2014 15 % talkgefüllte Polypropylen- und EPDM-Gummimischung (Version 17; Englisch/Koreanisch).