IEC 60749-29:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test

Standard-Nr.

IEC 60749-29:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-29:2011

Ersetzen

IEC 47/2083/FDIS:2011 IEC 60749-29:2003

IEC 60749-29:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 IEC 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test
• 2003 IEC 60749-29:2003 Halbleitergeräte, Methoden für mechanische und klimatische Messungen, Abschnitt 29: Verrouillage-Test (Ausgabe 1.0; ersetzt IEC PAS 62181)