IEC 60749-29:2003
Halbleitergeräte, Methoden für mechanische und klimatische Messungen, Abschnitt 29: Verrouillage-Test (Ausgabe 1.0; ersetzt IEC PAS 62181)

Standard-Nr.

IEC 60749-29:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

IEC - International Electrotechnical Commission

Zustand

ersetzt werden 2011-04

ersetzt durch

IEC 60749-29:2011

Letzte Version

IEC 60749-29:2011

IEC 60749-29:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 IEC 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test
• 2003 IEC 60749-29:2003 Halbleitergeräte, Methoden für mechanische und klimatische Messungen, Abschnitt 29: Verrouillage-Test (Ausgabe 1.0; ersetzt IEC PAS 62181)