BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Scherfestigkeit
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BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Standard-Nr.
BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
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BS EN 60749-19:2003+A1:2010 Veröffentlichungsverlauf
2003
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Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Scherfestigkeit
2003
BS EN 60749-19:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Scherfestigkeit der Chips
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