BS EN 60749-19:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Scherfestigkeit der Chips
- Standard-Nr.
- BS EN 60749-19:2003
- Erscheinungsdatum
- 2003
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Zustand
- 2003-06
- ersetzt durch
- BS EN 60749-19:2003+A1:2010
- Letzte Version
- BS EN 60749-19:2003+A1:2010
BS EN 60749-19:2003 Veröffentlichungsverlauf
- 2003 BS EN 60749-19:2003+A1:2010 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Scherfestigkeit
- 2003 BS EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Scherfestigkeit der Chips
