IEC PAS 62050:2004
Falltestmethode auf Platinenebene für Komponenten für tragbare elektronische Produkte

Standard-Nr.

IEC PAS 62050:2004

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

zurückziehen 2008-01

Letzte Version

IEC PAS 62050:2004

ersetzt durch

IEC 60749-37:2008

IEC PAS 62050:2004 Veröffentlichungsverlauf

• 2004 IEC PAS 62050:2004 Falltestmethode auf Platinenebene für Komponenten für tragbare elektronische Produkte

IEC PAS 62050:2004 Falltestmethode auf Platinenebene für Komponenten für tragbare elektronische Produkte ha sido cambiado a IEC 60749-37:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Beschleunigungsmessers.