ASTM E986-04(2010)
Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen

Standard-Nr.

ASTM E986-04(2010)

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

ASTM E986-04(2017)

Letzte Version

ASTM E986-04(2017)

ASTM E986-04(2010) Normative Verweisungen

• ASTM E7 Standardterminologie in Bezug auf Metallographie
• ASTM E766 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

ASTM E986-04(2010) Veröffentlichungsverlauf

• 2017 ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 2004 ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 2004 ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 1997 ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen