ASTM E986-04(2017)
Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen

Standard-Nr.

ASTM E986-04(2017)

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Letzte Version

ASTM E986-04(2017)

ASTM E986-04(2017) Normative Verweisungen

• ASTM E7 Standardterminologie in Bezug auf Metallographie*， 2022-10-01 Aktualisieren
• ASTM E766 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

ASTM E986-04(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2017 ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 2004 ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 2004 ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
• 1997 ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen