IEEE 1149.7-2009
Testzugangsport und Boundary-Scan-Architektur mit reduzierten Pins und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.
IEEE 1149.7-2009
Erscheinungsdatum
2009
Organisation
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Zustand
ersetzt durch
IEEE 1149.7-2022
Letzte Version
IEEE 1149.7-2022

IEEE 1149.7-2009 Veröffentlichungsverlauf

  • 1970 IEEE 1149.7-2022 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
  • 2009 IEEE 1149.7-2009 Testzugangsport und Boundary-Scan-Architektur mit reduzierten Pins und erweiterter Funktionalität
Testzugangsport und Boundary-Scan-Architektur mit reduzierten Pins und erweiterter Funktionalität



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