IEEE 1149.7-2022
IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.

IEEE 1149.7-2022

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEEE 1149.7-2022

IEEE 1149.7-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 1970 IEEE 1149.7-2022 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
• 2009 IEEE 1149.7-2009 Testzugangsport und Boundary-Scan-Architektur mit reduzierten Pins und erweiterter Funktionalität