GB/T 1555-1997
Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 1555-1997
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1997
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2010-06
- ersetzt durch
- GB/T 1555-2009
- Letzte Version
- GB/T 1555-2023
GB/T 1555-1997 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 GB/T 1555-2023 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- 2009 GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- 1997 GB/T 1555-1997 Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls
