IEC 62137-1-3:2008
Oberflächenmontagetechnik – Umwelt- und Dauertestmethoden für oberflächenmontierte Lötverbindungen – Teil 1-3: Zyklischer Falltest

Standard-Nr.
IEC 62137-1-3:2008
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 62137-1-3:2008
Ersetzen
IEC 91/802/FDIS:2008

IEC 62137-1-3:2008 Normative Verweisungen

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  • IEC 61188-5 Leiterplatten und Leiterplattenbaugruppen – Design und Verwendung – Teil 5-8: Überlegungen zur Befestigung (Anschlussfläche/Verbindung) – Flächenarray-Komponenten (BGA, FBGA, CGA, LGA)
  • IEC 61190-1-2 Befestigungsmaterialien für die Elektronikmontage – Teil 1-2: Anforderungen an Lötpaste für hochwertige Verbindungen in der Elektronikmontage*2014-02-01 Aktualisieren
  • IEC 61192-1 Verarbeitungsanforderungen für gelötete elektronische Baugruppen – Teil 1: Allgemeines
  • IEC 61249-2-7 Materialien für Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen - Teil 2-7: Verstärkte Grundmaterialien, plattiert und unbekleidet; Epoxidgewebte E-Glas-Verbundplatte mit definierter Brennbarkeit (vertikaler Brenntest), kupferkaschiert
  • IEC 61760-1 Oberflächenmontagetechnik – Teil 1: Standardverfahren zur Spezifikation von oberflächenmontierbaren Bauteilen (SMDs)*2020-07-14 Aktualisieren

IEC 62137-1-3:2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2008 IEC 62137-1-3:2008 Oberflächenmontagetechnik – Umwelt- und Dauertestmethoden für oberflächenmontierte Lötverbindungen – Teil 1-3: Zyklischer Falltest
Oberflächenmontagetechnik – Umwelt- und Dauertestmethoden für oberflächenmontierte Lötverbindungen – Teil 1-3: Zyklischer Falltest



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