DIN EN 60749-38:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
- Standard-Nr.
- DIN EN 60749-38:2008
- Erscheinungsdatum
- 2008
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN EN 60749-38:2008-10
- Letzte Version
- DIN EN 60749-38:2008-10
DIN EN 60749-38:2008 Veröffentlichungsverlauf
- 2008 DIN EN 60749-38:2008-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
- 2008 DIN EN 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
