DIN EN 60749-38:2008-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008

Standard-Nr.

DIN EN 60749-38:2008-10

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

German Institute for Standardization

Letzte Version

DIN EN 60749-38:2008-10

DIN EN 60749-38:2008-10 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 DIN EN 60749-38:2008-10 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
• 2008 DIN EN 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008