ASTM F1810-97
Standardtestverfahren zur Zählung bevorzugt geätzter oder dekorierter Oberflächenfehler in Siliziumwafern

Standard-Nr.
ASTM F1810-97
Erscheinungsdatum
1997
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F1810-97(2002)
Letzte Version
ASTM F1810-97(2002)

ASTM F1810-97 Normative Verweisungen

  • ASTM F1241 
  • ASTM F1725 Standardhandbuch zur Analyse der kristallographischen Perfektion von Siliziumbarren
  • ASTM F1726 Standardhandbuch zur Analyse der kristallographischen Perfektion von Siliziumwafern
  • ASTM F1727 Standardpraxis zur Erkennung von durch Oxidation verursachten Defekten in polierten Siliziumwafern
  • ASTM F1809 Standardhandbuch für die Auswahl und Verwendung von Ätzlösungen zur Darstellung struktureller Defekte in Silizium

ASTM F1810-97 Veröffentlichungsverlauf

Standardtestverfahren zur Zählung bevorzugt geätzter oder dekorierter Oberflächenfehler in Siliziumwafern



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