ASTM F1393-92(1997)
Standardtestmethode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Siliziumwafern durch Miller Feedback Profiler-Messungen mit einer Quecksilbersonde

Standard-Nr.
ASTM F1393-92(1997)
Erscheinungsdatum
1992
Organisation
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Zustand
ersetzt durch
ASTM F1393-02
Letzte Version
ASTM F1393-02

ASTM F1393-92(1997) Normative Verweisungen

  • ASTM D1193 Standardspezifikation für Reagenzwasser*1999-03-30 Aktualisieren
  • ASTM F1241 
  • ASTM F26 
  • ASTM F419 
  • ASTM F42 Standardtestmethoden für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*1993-03-30 Aktualisieren
  • ASTM F673 Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands von Halbleiterscheiben oder des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
  • ASTM F723 
  • ASTM F81 
  • ASTM F84 

ASTM F1393-92(1997) Veröffentlichungsverlauf

  • 1970 ASTM F1393-02
  • 1992 ASTM F1393-92(1997) Standardtestmethode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Siliziumwafern durch Miller Feedback Profiler-Messungen mit einer Quecksilbersonde
Standardtestmethode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Siliziumwafern durch Miller Feedback Profiler-Messungen mit einer Quecksilbersonde



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