ASTM F1393-92(1997) Standardtestmethode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Siliziumwafern durch Miller Feedback Profiler-Messungen mit einer Quecksilbersonde
ASTM F42 Standardtestmethoden für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*, 1993-03-30 Aktualisieren
ASTM F673 Standardtestmethoden zur Messung des spezifischen Widerstands von Halbleiterscheiben oder des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen mit einem berührungslosen Wirbelstrommessgerät
1992ASTM F1393-92(1997) Standardtestmethode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Siliziumwafern durch Miller Feedback Profiler-Messungen mit einer Quecksilbersonde