IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 11: Schnelle Temperaturänderung; Zweiflüssigkeitsbadverfahren
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IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Standard-Nr.
IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Zustand
ersetzt werden
ersetzt durch
IEC 60749-11:2002/COR2:2003
Letzte Version
IEC 60749-11:2002/COR2:2003
IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Veröffentlichungsverlauf
2003
IEC 60749-11:2002/COR2:2003
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Schnelle Temperaturänderung; Zweiflüssigkeitsbadverfahren; Berichtigung 2
2003
IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 11: Schnelle Temperaturänderung; Zweiflüssigkeitsbadverfahren
2002
IEC 60749-11:2002
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Schnelle Temperaturänderung; Zwei-Flüssigkeitsbad-Methode
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