IEC 60749-36:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 36: Beschleunigung, stationärer Zustand

Standard-Nr.

IEC 60749-36:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-36:2003

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IEC 47/1667/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002

IEC 60749-36:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2003 IEC 60749-36:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 36: Beschleunigung, stationärer Zustand