2003IEC 60749-8:2002/COR2:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 8: Abdichtung
2003IEC 60749-8:2002/COR1:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 8: Abdichtung
2002IEC 60749-8:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 8: Abdichtung
IEC 60749-8:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 8: Abdichtung ha sido cambiado a IEC 60749:1996 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden.