GB/T 11094-2007
Horizontaler Bridgman-gewachsener Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 11094-2007
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2007
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2021-08
- ersetzt durch
- GB/T 11094-2020
- Letzte Version
- GB/T 11094-2020
- Ersetzen
- GB/T 11094-1989
GB/T 11094-2007 Normative Verweisungen
- GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen*， 2009-10-30 Aktualisieren
- GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*， 2023-08-06 Aktualisieren
- GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*， 2013-02-15 Aktualisieren
- GB/T 4326 Messung der Hall-Mobilität und des Hall-Koeffizienten durch extrinsische Halbleiter-Einkristalle
- GB/T 8760 Prüfverfahren für die Versetzungsdichte von einkristallinem Galliumarsenid*， 2020-09-29 Aktualisieren
- GJB 1927 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
GB/T 11094-2007 Veröffentlichungsverlauf
- 2020 GB/T 11094-2020 Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer, gezüchtet durch die horizontale Bridgman-Methode
- 2007 GB/T 11094-2007 Horizontaler Bridgman-gewachsener Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer
- 1989 GB/T 11094-1989 Im Boot gezüchtete Galliumarsenid-Einkristalle und As-Cut-Scheiben
