SAE J1752-1-2006
Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise

Standard-Nr.

SAE J1752-1-2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Society of Automotive Engineers (SAE)

Zustand

ersetzt werden 2016-05

ersetzt durch

SAE J1752-1-2016

Letzte Version

SAE J1752-1-2021

SAE J1752-1-2006 Normative Verweisungen

• IEEE 100-2000 Wörterbuch der Elektro- und Elektronikbegriffe*， 2024-03-30 Aktualisieren
• SAE J1113/1-2006 Verfahren und Grenzwerte zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für Komponenten von Fahrzeugen, Booten (bis zu 15 m) und Maschinen (außer Flugzeugen) (16,6 Hz bis 18 GHz)*， 2006-10-13 Aktualisieren
• SAE J1752/2-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• SAE J1752/3-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten SchaltkreisenTEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)

SAE J1752-1-2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 SAE J1752-1-2021 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise
• 2016 SAE J1752-1-2016 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise
• 2006 SAE J1752-1-2006 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise
• 1997 SAE J1752-1-1997 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen