JIS K 3850-1:2006
Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Standard-Nr.

JIS K 3850-1:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS K 3850-1:2006

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JIS K 3850-1:2000

JIS K 3850-1:2006 Normative Verweisungen

• JIS A 1481 Bestimmung von Asbest in Baustoffprodukten*， 2008-06-20 Aktualisieren
• JIS B 7551 Schwebekörper-Durchflussmesser
• JIS K 3802 Fachbegriffe für Membranen und Membranverfahren*， 2015-08-20 Aktualisieren
• JIS K 8034 Aceton
• JIS R 3702 Abdeckgläser für Mikroskope

JIS K 3850-1:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2006 JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• 2000 JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode