JIS K 3850-1:2000
Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Standard-Nr.
JIS K 3850-1:2000
Erscheinungsdatum
2000
Organisation
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Zustand
 2006-10
ersetzt durch
JIS K 3850-1:2006
Letzte Version
JIS K 3850-1:2006

JIS K 3850-1:2000 Veröffentlichungsverlauf

  • 2006 JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • 2000 JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode



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