JIS K 3850-1:2000
Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Standard-Nr.

JIS K 3850-1:2000

Erscheinungsdatum

2000

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

zurückziehen 2006-10

ersetzt durch

JIS K 3850-1:2006

Letzte Version

JIS K 3850-1:2006

JIS K 3850-1:2000 Veröffentlichungsverlauf

• 2006 JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• 2000 JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode