2003IEC 60749-2:2002/COR1:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
2002IEC 60749-2:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
IEC 60749-2:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck ha sido cambiado a IEC 60749:1996 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden.