IEC 60749-33:2005
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 33: Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener Autoklav

Standard-Nr.

IEC 60749-33:2005

Erscheinungsdatum

2005

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-33:2005

Ersetzen

IEC 47/1737/FDIS:2003 IEC 60749-33:2004 IEC/PAS 62172:2000

IEC 60749-33:2005 Veröffentlichungsverlauf

• 2005 IEC 60749-33:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 33: Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener Autoklav
• 2004 IEC 60749-33:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 33: Beschleunigte Feuchtigkeitsbeständigkeit – Unvoreingenommener Autoklav (Ausgabe 1.0; ersetzt IEC PAS 62172:2000)