IEC PAS 62177:2000
Hochbeschleunigter Temperatur- und Feuchtigkeitsstresstest (HAST)

Standard-Nr.

IEC PAS 62177:2000

Erscheinungsdatum

2000

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

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Letzte Version

IEC PAS 62177:2000

ersetzt durch

IEC 60749-4:2002

IEC PAS 62177:2000 Veröffentlichungsverlauf

• 2000 IEC PAS 62177:2000 Hochbeschleunigter Temperatur- und Feuchtigkeitsstresstest (HAST)

IEC PAS 62177:2000 Hochbeschleunigter Temperatur- und Feuchtigkeitsstresstest (HAST) ha sido cambiado a IEC 60749-4:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST).