JIS K 0143:2000
Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
- Standard-Nr.
- JIS K 0143:2000
- Erscheinungsdatum
- 2000
- Organisation
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Zustand
- 2023-02
- ersetzt durch
- JIS K 0143:2023
- Letzte Version
- JIS K 0143:2023
JIS K 0143:2000 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 JIS K 0143:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
- 2000 JIS K 0143:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der Bor-Atomkonzentration in Silizium unter Verwendung gleichmäßig dotierter Materialien
