IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk - Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Änderung