IEC 61189-3:1997
Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)

Standard-Nr.
IEC 61189-3:1997
Erscheinungsdatum
1997
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Zustand
ersetzt durch
IEC 61189-3/AMD1:1999
Letzte Version
IEC 61189-3:2007

IEC 61189-3:1997 Veröffentlichungsverlauf

  • 2007 IEC 61189-3:2007 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)
  • 2006 IEC 61189-3/AMD1:2006 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten); Änderung 1
  • 2006 IEC 61189-3:2006 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)
  • 1999 IEC 61189-3/AMD1:1999 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten); Änderung 1
  • 1997 IEC 61189-3:1997 Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)
Prüfverfahren für elektrische Materialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen – Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)



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