GB/T 43493.2-2023
Zerstörungsfreie Prüfung und Identifizierungskriterien für Defekte in homoepitaktischen Siliziumkarbid-Wafern für Leistungsbauelemente von Halbleiterbauelementen. Teil 2: Optisches Verfahren zur Defekterkennung (Englische Version)

Standard-Nr.: GB/T 43493.2-2023
Sprachen: Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum: 2023
Organisation: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version: GB/T 43493.2-2023

GB/T 43493.2-2023 Veröffentlichungsverlauf

2023 GB/T 43493.2-2023 Zerstörungsfreie Prüfung und Identifizierungskriterien für Defekte in homoepitaktischen Siliziumkarbid-Wafern für Leistungsbauelemente von Halbleiterbauelementen. Teil 2: Optisches Verfahren zur Defekterkennung