ESD SP5.4.1-2022
Für Latch-Up-Empfindlichkeitstests von CMOS/BiCMOS-integrierten Schaltkreisen Transient Latch-Up Testing Device Level

Standard-Nr.

ESD SP5.4.1-2022

Erscheinungsdatum

2024

Organisation

SCC

Letzte Version

ESD SP5.4.1-2022

ESD SP5.4.1-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2024 ESD SP5.4.1-2022 Für Latch-Up-Empfindlichkeitstests von CMOS/BiCMOS-integrierten Schaltkreisen Transient Latch-Up Testing Device Level
• 2024 ESD SP5.4.1-2017 Für Latch-up-Empfindlichkeitstests von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Geräteebene für transiente Latch-up-Tests