ESD SP5.4.1-2017
Für Latch-up-Empfindlichkeitstests von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Geräteebene für transiente Latch-up-Tests

Standard-Nr.

ESD SP5.4.1-2017

Erscheinungsdatum

2024

Organisation

SCC

Letzte Version

ESD SP5.4.1-2017

ESD SP5.4.1-2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2024 ESD SP5.4.1-2017 Für Latch-up-Empfindlichkeitstests von integrierten CMOS/BiCMOS-Schaltkreisen. Geräteebene für transiente Latch-up-Tests