KS D 8519-2009(2015)
Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode

Standard-Nr.

KS D 8519-2009(2015)

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

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KS D 8519-2009(2015)

KS D 8519-2009(2015) Veröffentlichungsverlauf

• 2015 KS D 8519-2015 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
• 2009 KS D 8519-2009 Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• 0000 KS D 8519-1999