IEC 60749-5:2023
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

Standard-Nr.

IEC 60749-5:2023

Erscheinungsdatum

2023

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-5:2023

IEC 60749-5:2023 Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 60749-5:2023 RLV
• 2017 IEC 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
• 2003 IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit