KS C IEC 60749-20:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-20:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-20:2020

KS C IEC 60749-20:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-20:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme
• 2005 KS C IEC 60749-20:2005 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze