DIN EN IEC 60749-37:2023-12
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (IEC 60749-37:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-37:2022 / Hinweis: DIN EN 60749-37 (2008-08) bleibt neben dieser Norm weiterhin gültig...