ASTM E2244-11(2018)
Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
- Standard-Nr.
- ASTM E2244-11(2018)
- Erscheinungsdatum
- 2018
- Organisation
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- Letzte Version
- ASTM E2244-11(2018)
ASTM E2244-11(2018) Normative Verweisungen
- ASTM E2245 Standardtestmethode für Restdehnungsmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer*， 2024-03-31 Aktualisieren
- ASTM E2246 Standardtestmethode für Dehnungsgradientenmessungen dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer*， 2024-03-31 Aktualisieren
- ASTM E2444 Terminologie im Zusammenhang mit Messungen an dünnen, reflektierenden Filmen*， 2024-03-31 Aktualisieren
- ASTM E2530 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten*， 2024-03-31 Aktualisieren
ASTM E2244-11(2018) Veröffentlichungsverlauf
- 2018 ASTM E2244-11(2018) Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
- 2011 ASTM E2244-11e1 Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
- 2011 ASTM E2244-11 Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
- 2005 ASTM E2244-05 Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
- 2002 ASTM E2244-02 Standardtestmethode für Längenmessungen in der Ebene dünner, reflektierender Filme mit einem optischen Interferometer
