UNE-EN 60749-19:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-19:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

AENOR

Zustand

ersetzt werden 2011-01

ersetzt durch

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

Letzte Version

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

UNE-EN 60749-19:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit
• 2003 UNE-EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit