UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011

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2011

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UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit
• 2003 UNE-EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Die Scherfestigkeit