GB/T 27760 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte
GB/T 30544.13 Nanotechnologien – Wortschatz – Teil 13: Graphen und verwandte zweidimensionale (2D) Materialien
JJF 1351 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope
GB/T 40066-2021 Veröffentlichungsverlauf
2021GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)