GB/T 27760-2011
Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 27760-2011
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2011
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Letzte Version
- GB/T 27760-2011
GB/T 27760-2011 Normative Verweisungen
- ISO 25178-6:2010 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Teil 6: Klassifizierung von Methoden zur Messung der Oberflächenbeschaffenheit
- ISO/IEC Guide 98-3:2008 Messunsicherheit – Teil 3: Leitfaden zum Ausdruck der Messunsicherheit (GUM:1995)
- ISO/TS 21748:2004 Leitfaden für die Verwendung von Wiederholbarkeits-, Reproduzierbarkeits- und Richtigkeitsschätzungen bei der Schätzung der Messunsicherheit
GB/T 27760-2011 Veröffentlichungsverlauf
- 2011 GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte
