DIN EN 60749-40:2012-02
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens (IEC 60749-40:2011); Deutsche Fassung EN 60749-40:2011
- Standard-Nr.
- DIN EN 60749-40:2012-02
- Erscheinungsdatum
- 2012
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Letzte Version
- DIN EN 60749-40:2012-02
DIN EN 60749-40:2012-02 Veröffentlichungsverlauf
- 2012 DIN EN 60749-40:2012-02 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens (IEC 60749-40:2011); Deutsche Fassung EN 60749-40:2011
- 2012 DIN EN 60749-40:2012 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens (IEC 60749-40:2011); Deutsche Fassung EN 60749-40:2011
- 0000 DIN IEC 60749-40:2009
