BS EN ISO 19749:2023
Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
- Standard-Nr.
- BS EN ISO 19749:2023
- Erscheinungsdatum
- 2023
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS EN ISO 19749:2023
BS EN ISO 19749:2023 Normative Verweisungen
- ISO 13322-1 Partikelgrößenanalyse – Bildanalysemethoden – Teil 1: Statische Bildanalysemethoden
- ISO 16700 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- ISO 26824 Partikelcharakterisierung von Partikelsystemen – Vokabular
- ISO 9276-1 Darstellung der Ergebnisse der Partikelgrößenanalyse – Teil 1: Grafische Darstellung TECHNISCHE KORRIGENDUM 1
- ISO 9276-2 Darstellung der Ergebnisse der Partikelgrößenanalyse – Teil 2: Berechnung durchschnittlicher Partikelgrößen/-durchmesser und -momente aus Partikelgrößenverteilungen
- ISO 9276-3 Darstellung der Ergebnisse der Partikelgrößenanalyse – Teil 3: Anpassung einer Versuchskurve an ein Referenzmodell
- ISO 9276-5 Darstellung der Ergebnisse der Partikelgrößenanalyse - Teil 5: Berechnungsmethoden zur Partikelgrößenanalyse unter Verwendung der logarithmischen Normalwahrscheinlichkeitsverteilung
- ISO 9276-6 Darstellung der Ergebnisse der Partikelgrößenanalyse - Teil 6: Beschreibende und quantitative Darstellung der Partikelform und -morphologie
- ISO/IEC 17025 Allgemeine Anforderungen an die Kompetenz von Prüf- und Kalibrierlaboratorien
- ISO/IEC Guide 99
- ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
- ISO/TS 80004-1 Nanotechnologien – Wortschatz – Teil 1: Kernbegriffe
- ISO/TS 80004-2 Nanotechnologien - Vokabeln - Teil 2: Nanoobjekte
- ISO/TS 80004-3 Nanotechnologien – Vokabeln – Teil 3: Kohlenstoff-Nanoobjekte
- ISO/TS 80004-4 Nanotechnologien - Vokabeln - Teil 4: Nanostrukturierte Materialien
- ISO/TS 80004-6 Nanotechnologien – Wortschatz – Teil 6: Charakterisierung von Nanoobjekten
BS EN ISO 19749:2023 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
