ASTM E2530 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten*, 2024-03-31 Aktualisieren
ASTM E3220-20 Veröffentlichungsverlauf
2020ASTM E3220-20 Standardhandbuch zur Charakterisierung von Graphenflocken