KS C IEC 60749-6-2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
Start
KS C IEC 60749-6-2020
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-6-2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
KR-KS
Letzte Version
KS C IEC 60749-6-2020
KS C IEC 60749-6-2020 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-6:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
2004
KS C IEC 60749-6:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
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