BS EN IEC 63287-2:2023
Halbleiterbauelemente. Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne Konzept des Missionsprofils (britischer Standard)
- Standard-Nr.
- BS EN IEC 63287-2:2023
- Organisation
- American National Standards Institute （ANSI)
- Letzte Version
- BS EN IEC 63287-2:2023
BS EN IEC 63287-2:2023 Normative Verweisungen
- IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung*， 2021-08-01 Aktualisieren
BS EN IEC 63287-2:2023 Veröffentlichungsverlauf
- 1970 BS EN IEC 63287-2:2023 Halbleiterbauelemente. Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne Konzept des Missionsprofils (britischer Standard)
