IEC 63287-1:2021
Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung

Standard-Nr.
IEC 63287-1:2021
Erscheinungsdatum
2021
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 63287-1:2021
ersetzt durch
IEC 60749-43:2017 IEC 47/2703/FDIS:2021

IEC 63287-1:2021 Veröffentlichungsverlauf

  • 2021 IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung

IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung ha sido cambiado a IEC 60749-43:2017 Halbleitergeräte - Mechanik- und Klimastudien - Abschnitt 43: Leitungslinien für CI-Qualifizierungspläne (Ausgabe 1.0).

Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung



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