KS C IEC 60749-2-2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
Start
KS C IEC 60749-2-2020
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-2-2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
KR-KS
Letzte Version
KS C IEC 60749-2-2020
KS C IEC 60749-2-2020 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-2:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 2: Niedriger Luftdruck
2004
KS C IEC 60749-2:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 2: Niedriger Luftdruck
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